x射線繞射原理

x射線繞射原理：將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的繞射現象。

波長λ可用已知的X射線繞射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的繞射X射線強度和麪間隔與已知的表對照，即可確定試樣結晶的物質結構，此即定性分析。從繞射X射線強度的比較，可進行定量分析。