膜厚儀的使用方法

膜厚儀的使用方法如下：

1、測定準備：確保電池正負極方向正確無誤後設定。探頭的選擇和設定：在探頭上有電磁式和渦電流式2種類型。對準測定物件，在本體上進行設定。

2、探頭的選擇和安裝方法：確認電源處於OFF狀態，與測定物件的質地材質接觸，安裝LEP-J或LHP-J。

3、調整：確認測定物件已經被調整。未調整時要進行調整。

4、測定：在探頭的末端加一定的負荷，即使用【一點接觸定壓式】。抓住與測定部接近的部分，迅速在與測定面成垂直的角度按下。每次都要從探頭的前端測定面開始離開10mm以上。使用管狀的東西連續測定平面時，如果採用探頭介面卡，可以更加穩定地進行測定。

膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。臺式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。